【佳學基因檢測】嚴重聯(lián)合免疫缺陷，伴有小頭畸形、發(fā)育遲緩和對電離輻射的敏感性分子診斷怎么做？

分子診斷導讀：

嚴重聯(lián)合免疫缺陷，伴有小頭畸形、發(fā)育遲緩和對電離輻射的敏感性是一種由基因序列異常引起的疾病。診斷和治療需要采用分子診斷技術。佳學基因通過基因解碼建立這一疾病的臨床表征與基因序列變化的關系，可以提供致力找到病因、阻斷遺傳的基因解碼和出于風險考慮的基因檢測。

嚴重聯(lián)合免疫缺陷，伴有小頭畸形、發(fā)育遲緩和對電離輻射的敏感性疾病介紹：

嚴重聯(lián)合免疫缺陷癥（SCID）是一種主要的免疫缺陷，其特征在于T-淋巴細胞系和B-淋巴細胞系中的嚴重缺陷。該病臨床表征有：額頭傾斜；血小板減少；貧血；重癥聯(lián)合免疫缺陷；鼻形態(tài)異常；細胞免疫缺陷。

嚴重聯(lián)合免疫缺陷，伴有小頭畸形、發(fā)育遲緩和對電離輻射的敏感性基因解碼

根據(jù)《人的基因序列變化與人體疾病表征》，過去有部分機構(gòu)和醫(yī)務人員認為嚴重聯(lián)合免疫缺陷，伴有小頭畸形、發(fā)育遲緩和對電離輻射的敏感性不是遺傳性疾病，甚至有人認為該病不是由基因引起的，嚴重聯(lián)合免疫缺陷，伴有小頭畸形、發(fā)育遲緩和對電離輻射的敏感性發(fā)生的內(nèi)在基因原因被忽視。佳學基因通過基因解碼找到并定位了導致這一疾病發(fā)生的原因，提出了嚴重聯(lián)合免疫缺陷，伴有小頭畸形、發(fā)育遲緩和對電離輻射的敏感性的遺傳風險，并建議通過基因檢測明確和排除風險，讓后代、二胎不再患有嚴重聯(lián)合免疫缺陷，伴有小頭畸形、發(fā)育遲緩和對電離輻射的敏感性，實現(xiàn)嚴重聯(lián)合免疫缺陷，伴有小頭畸形、發(fā)育遲緩和對電離輻射的敏感性遺傳阻斷的目的。

如何做嚴重聯(lián)合免疫缺陷，伴有小頭畸形、發(fā)育遲緩和對電離輻射的敏感性基因檢測？

佳學基因組織了國際和國內(nèi)這一領域的病理學家、分子生物學家、基因信息專家，利用基因解碼技術，明確并定位了導致嚴重聯(lián)合免疫缺陷，伴有小頭畸形、發(fā)育遲緩和對電離輻射的敏感性發(fā)生的基因原因、基因片段和基因位點，通過基因檢測在婚前、孕前、發(fā)病前或者是發(fā)病后都能正確地知道體內(nèi)是否有導致嚴重聯(lián)合免疫缺陷，伴有小頭畸形、發(fā)育遲緩和對電離輻射的敏感性發(fā)生的基因序列。檢測非常簡單。只需要在社區(qū)診所、當?shù)蒯t(yī)院采集少量抗凝靜脈血，并將抗凝靜脈血快遞到佳學基因基因解碼實驗室就可以了。致電4001601189，也可以得到佳學基因解碼師的幫助。

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